激光粒度儀是專指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器。根據能譜穩(wěn)定與否分為靜態(tài)光散射粒度儀和動態(tài)光散射激光粒度儀。

德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的。Fritsch公司的Analysette22 NanoTec程納米激光粒度儀，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。

靜態(tài)激光粒度儀原理：
由激光器發(fā)出的光束經針孔濾波及擴束器后成為一直徑為5-10mm的平行單色光，當該平行光照射到測量區(qū)中的顆粒群時會產生衍射現象，衍射散射光的強度分布與測量區(qū)中被照射顆粒的直徑以及顆粒數有關，這就為顆粒測量提供了一個尺度，用接收透鏡（一般為傅立葉透鏡）使由各個顆粒散射出來的相同方向的光聚焦到焦平面上，在這個平面上放置一個多元光電探測器，用來接收散射光能的分布。光點探測器把照射光能轉換成相應的電信號，這些電信號中包含顆粒粒徑大小以及分布的信息。電信號經過放大和A/D轉換后送入計算機，計算機根據程序計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

A22 NanoTec 的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。